类离子急速移动试验装置

供多层印刷电路板绝缘劣化评价用ECM-100系列

可对离子迁移・绝缘电阻值进行高精度・高信赖性・率的评价。

从当今的地球・市场环境来看，省能源・铅/无卤素・小型轻量・低价格・高信赖等观点出发的，

新素材・新实装方法的研究开发・评价方法的重估是必须的。

J-RAS公司把握市场的需要，为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的，

新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。

简介：离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流

电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的

现象发生（ION MIGRATION）,并记录阻抗变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING）

适用规格：JPCA-ET01-2001

项目

规格・性能・其他

筺体

型式

ECM-100/40-n(n:Channel数)

ECM-100/100-n(n:Channel数)

筺体型式

40CH型（4计测组合）

100CH型（10计测组合）

筺体寸法

265W×330.3D×405H（突起部除外）

417.4W×330.3D×405H（突起部除外）

消費电力

大约70VA（4计测组合实装時）

大约130VA（10计测组合实装時）

重量

大约16kg（4计测组合实装時）

大约25kg（10计测组合实装時）