光谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用，可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层（二层或多层）减反射膜、和玻璃/有机基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析也非常出色。 针对太阳能电池应用的光谱椭偏仪基于的椭偏光路设计，高灵敏度探测单元和光谱椭偏仪分析软件，可测量各种太阳能电池的薄膜厚度和光学常数，光学带宽等。

光谱椭偏仪 - 产品特点

连续波长的光源为用户提供了更大的应用空间

更简便快捷的样品准直方法

软件具备丰富的材料数据库

允许用户自定义色散模型，更方便用户研究新材料的光学性质

全波长多角度同时数据拟合，EMA模型用户多成分化合物和表面粗糙度分析

具有实验数据和模拟数据三维绘图功能

光谱范围宽达250 - 1100nm (可扩展至250-1700nm)

功能强大的光谱椭偏测量与分析软件

光谱椭偏仪 - 技术指标

光源：氙灯

光斑直径：1-3mm

入射角范围：20°到90°,5°/步

波长范围：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°

波长精度：1nm

测量时间: < 8s （取决于测量模式和粗糙度）

样品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm电池片, 其他尺寸

测量精度：0.02nm

折射率：0.0002,100nmSiO2 on Si

厚度测量范围：0.01nm ~ 50um

消光比：10-6

光谱椭偏仪 - 可选配

CCD线阵列探测元件：200-850nm，350-1000nm

样品显微镜

高稳定性消色差补偿器

透射测量架

XY移动样品台

光谱椭偏仪 - 典型客户

美国，欧洲，亚洲及国内太阳能及半导体客户。